2026年1月21日（水）～23日（金）東京ビッグサイトにて開催された

「ネプコンジャパン2026（エレクトロテストジャパン）」へ出展いたしました。

おかげさまで盛況のうちに本展示会を無事に終えることができ、厚く御礼申し上げます。

本展示会では、良品学習AIツールをはじめとした外観検査画像処理ソリューションをご紹介いたしました。

製品やシステムの詳細、資料請求のご要望がございましたら、 どうぞお気軽に お問い合わせください。

主な出展製品（製品名クリックで紹介ページへ）

■円筒形状物の全周外観検査システム

高速・高精度な外観検査を支えるオールインワン画像処理システム「VTV-9000」シリーズのデモ展示。 

1台のエリアカメラで、円筒形状部品全周の欠陥検査を実現！ 

ワークを回転させながら撮像することで、 

円筒・曲面ワークも検査領域に合わせて帯状の画像に連結し安定した検査を行います。 

複数台のエリアカメラを設置することで全面検査にも対応。

■AI-AnomalyFinder（良品学習型AIツール）

VTV-9000シリーズに標準搭載された軽量AIアプリ。

良品のみで学習し、傷や汚れなどの異常を自動検出。

ヒートマップで可視化し、外観検査の効率化を支援します。

■VTV-QCS（外観検査リモート管理システム）

VTV-9000の検査画面・稼働状況をPCから一括監視。

検査データ検索や共有、設定タスクの一括配信により、

品質維持と工数削減を同時にサポートします。

■WID120（ウエハIDコードリーダー）

ウエハ表面のOCR／バーコード／データマトリクス／QRを安定読み取り。

RGB照明と自動最適化により低コントラスト文字にも対応し、工程トレーサビリティを強化します。

製品の詳細説明・デモ依頼・事前相談をご希望の方は、
お問い合わせフォームよりお気軽にご連絡ください。